湖南首台！中南大学TOF-SIMS交付使用

近日，中南大学粉末冶金研究院的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）通过验收，标志着湖南省首台TOF-SIMS正式交付使用！该仪器是由ULVAC-PHI, Inc.生产的PHI nanoTOF 3型号，于2022年底采购，现已完成安装调试，通过验收。我们期待在未来的日子里，该台设备能够助力中南大学在多种学科领域取得更高质量研究成果！

飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 简称ToF-SIMS），使用一次脉冲离子轰击固体材料表面，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量，以表征材料表面的元素成分、分子结构、分子键接等信息。对于材料表面成分及分布，表面多层结构/镀膜成分，表面异物残留(污染物、颗粒物、腐蚀物等)，表面痕量掺杂，表面改性，表面缺陷（划痕、凸起等）等有很好的表征能力。