张瑞福粉末测试技术研究所

PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪，是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板或测高仪，不需要复杂计算，测定一次只需3-5分钟。 本仪器运用的测定方法为"张瑞福法"，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89和国际标准：ISO10070-91，荣获国家发明奖。国标GB/T4062-98三氧化二锑平均粒度的测定采用本仪器进行检测。本测定仪微米级测试结果与费舍尔粒度仪完全一致，纳米级透过法粒度测量是世界首创。